电解电容的性能与寿命之间存在紧密的内在联系，性能的稳定性直接决定了其使用寿命的长短。容量衰减是性能退化的典型表现，也是影响寿命的关键因素。当电容在电路中长期工作时，电解质会逐渐损耗，导致容量缓慢下降，当容量衰减到初始值的一定比例时，电容便无法满足电路需求，寿命随之终结。这种衰减速度与电容的密封性能密切相关，密封良好的产品能延缓电解质挥发，从而延长寿命。

漏电流的变化同样反映性能与寿命的关系。正常工作状态下，电解电容的漏电流维持在较低水平，若因介质氧化膜受损导致漏电流增大，会使电容内部发热加剧，进一步加速电解质损耗和氧化膜老化，形成恶性循环，最终缩短使用寿命。这也是为何反向连接或过压使用会大幅缩短寿命 —— 这类操作会直接破坏氧化膜，引发漏电流骤增。

耐温性能是决定寿命的核心指标之一。在高温环境中，电容的各项性能参数会加速劣化：电解质的活性随温度升高而增强，挥发速度加快，容量衰减和漏电流增大的过程被显著提速。因此，耐高温型号的电解电容通过优化电解质配方和结构设计，能在高温下保持性能稳定，其寿命自然比普通型号更长。

频率特性的适配性也间接影响寿命。若在高频电路中使用低频特性的电解电容，会因阻抗过大导致发热增加，长期处于这种非最佳工作状态，会加速性能退化，缩短实际使用寿命。只有当电容性能与电路需求完全匹配时，才能在稳定发挥作用的同时，实现预期的使用寿命。