磁珠的失效机理源于其核心结构与材料特性在工作过程中的不可逆损伤，这些损伤多由过载、环境应力或工艺缺陷引发，最终导致其抑制高频干扰的核心功能丧失。磁珠的核心构成是磁芯与绕组，磁芯多采用铁氧体等磁性材料，绕组则为导电金属线，二者的协同作用决定了磁珠的工作性能，失效也多围绕这两部分展开。

过流与过热是磁珠最常见的失效诱因。当电路中出现浪涌电流或过载电流时，电流通过绕组产生的焦耳热会快速累积，若热量超出磁珠的承受范围，首先会导致绕组金属线氧化、熔断，或使绕组与磁芯的结合处出现松动、脱落，破坏导电通路的完整性。同时，高温会引发磁芯的热老化，导致磁芯的磁导率下降，甚至出现磁芯开裂、粉化等物理损伤，磁珠的阻抗特性会随之发生不可逆变化，无法有效衰减高频干扰。此外，长期的高频工作会使磁芯产生持续的磁滞损耗与涡流损耗，这些损耗转化的热量会加速磁芯老化，逐步降低其抗干扰性能，最终导致失效。